如何判定敏感元器件产品（IC，二极管，三极管，场效应管）是被静电损坏的？在電子行業中，如何區分和判定EOS、ESD造成的不良？有何方法實現區分？制程中损坏的IC，有多少是因为静是造成的？（有没有对制程做调查？佐证资料？）
解答：主要依靠失效分析方面的方法及相关设备
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